Записи с меткой: способ определения оптических свойств метаповерхностей

Физики нашли универсальный способ определения оптических свойств метаповерхностей

Физики нашли универсальный способ определения оптических свойств метаповерхностей

Физики разработали универсальный способ определения элементов матрицы рассеяния для оптических метаповерхностей с произвольной периодической текстурой. С помощью этой матрицы можно предсказывать, как падающее под произвольным углом электромагнитное излучение будет отражаться от такой поверхности, пишут ученые в Physical Review E. В качестве примера ученые вычислили характеристики терагерцового излучения, отраженного от гофрированного графена на кремниевой подложке...

подробнее »