Бразильские и Американские ученые изобрели простой и быстрый способ поиска дефектов в двумерных материалах. Для этого они скомбинировали метод микроскопии при помощи генерации второй гармоники с микроскопией темного поля. До этого основным инструментом для проверки однослойных структур считался дорогой и большой электронный микроскоп, непригодный для массового применения на производстве. Исследование опубликовано в журнале Nano Letters...
подробнее » Иллюстрация к статье:
Обсуждение